開課時間：8月2日-3日 上海 8月16日-17日 深圳
參加對象：公司高級主管，質(zhì)量主管，研發(fā)主管，可靠性工程師，產(chǎn)品設(shè)計師，質(zhì)量相關(guān)人員。
培訓(xùn)費用：2200元/人(含 授 課 費 、資 料 費、會務(wù) 費、午 餐 費 及 茶 點)
認(rèn)證費用：480元／人（參加認(rèn)證考試的學(xué)員須交納此費用，不參加認(rèn)證考試的學(xué)員無須交納此費用）。
凡希望參加認(rèn)證的學(xué)員，在培訓(xùn)結(jié)束后參加認(rèn)證考試并合格者，頒發(fā)“香港培訓(xùn)認(rèn)證中心國際職業(yè)資格認(rèn)證中心ＨＫＴＣＣ”《 國際注冊電子工程師》職業(yè)資格證書。（國際認(rèn)證／全球通行／雇主認(rèn)可／聯(lián)網(wǎng)查詢）。（課程結(jié)束一周后快遞給學(xué)員）。
課程大綱
1. 常用的可靠性指標(biāo)
1.1. 常用的可靠性指標(biāo)
可靠度、不可靠度、瞬時失效率、保證壽命、平均壽命、特征壽命、中位壽命、平均修復(fù)時間、有效度。
1.2 概率與統(tǒng)計
①概率
②分布
③置信區(qū)間；
2. 可靠性模型基礎(chǔ)
3 可靠性設(shè)計
可靠性設(shè)計是保證產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵內(nèi)容，產(chǎn)品設(shè)計必須根據(jù)產(chǎn)品的特點和應(yīng)用環(huán)境，進行必要的可靠性設(shè)計。常用的可靠性設(shè)計方法有如下幾種，在產(chǎn)品開發(fā)過程中，這些方面都要考慮到，包括借助相應(yīng)的仿真工具進行分析，才能夠保證設(shè)計的產(chǎn)品的可靠性。
3.1 可靠性設(shè)計的思路
設(shè)計失敗的案例
3.2 某型計算機可靠性設(shè)計缺陷分析
3.3 降額設(shè)計
3.4 容差分析
振蕩器最壞情況分析法的案例
3.5 邊緣性能設(shè)計
案例
3.6 儲備（冗余）設(shè)計
3.7 潛在通路分析
案例1 潛在通路
案例2 潛在時間
案例3 潛在標(biāo)志
案例4 潛在指示
3.8 電子產(chǎn)品熱設(shè)計
3.8.1 溫度對電子設(shè)備可靠性的影響
3.8.2 電子設(shè)備熱的來源
3.8.3 熱設(shè)計的目的
3.8.4 熱設(shè)計的程序
3.8.5 熱設(shè)計中元器件布局案例
案例
3.8.6 熱設(shè)計中元器件的安裝原則
安裝失誤案例
3.8.7 鼓風(fēng)機的選擇與安裝
3.8.8 冷卻劑流道設(shè)計
3.8.9 改善熱設(shè)計的方法及案例
案例1 密封電子設(shè)備
案例2 機載電子設(shè)備
3.9 防閂鎖設(shè)計
3.9.1 閂鎖的來源
3.9.2 閂鎖的預(yù)防
3.10 防呆設(shè)計
防呆設(shè)計案例
3.11 電路結(jié)構(gòu)可靠性設(shè)計
3.12 軟件可靠設(shè)計技巧
軟件可靠設(shè)計案例
4 電子產(chǎn)品可靠性保障技術(shù)
4.1 電子元器件元器件的選用
4.1.1 元器件選用管理
4.1.2 元器件選用技術(shù)
4.1.3 元器件質(zhì)量鑒別
4.2 ESD防護
4.2.1 ESD損失案例
4.2.2 ESD防護的實施
5. 可靠性試驗及其分類
6. 可靠性鑒定試驗
6.1 試驗大綱
6.2 試驗條件
6.3 試驗樣品
6.4 一次抽樣檢驗方案的基本原理
6.5 產(chǎn)品的成功率試驗方法
6.6 序貫截尾試驗方案
6.7 案例分析
7. 可靠性篩選試驗
7.1 篩選試驗的意義、特點
7.2 可靠性篩選試驗的分類
7.3 篩選強度
7.3.1 恒定高溫篩選強度
7.3.2 溫度循環(huán)的篩選強度
7.3.3 隨機振動的篩選強度
7.4 ESS試驗方法
7.4.1 缺陷剔除試驗
7.4.2 無故障檢驗試驗
7.4.3 通過判據(jù)
8. 加速壽命實驗
8.1 壽命試驗的分類
8.2 壽命試驗的測試點
8.3 壽命試驗的數(shù)據(jù)處理
8.4 加速壽命試驗的理論依據(jù)
8.5 加速應(yīng)力的選擇
8.6 樣品數(shù)量的選擇
8.7 激活能的計算
8.8 雙應(yīng)力加速實驗法
9. 可靠性實驗案例介紹
案例1 已知置信度和MTBF時的實驗測定
案例2 已知置信度和可靠度時的實驗測定
案例3 案例加速壽命實驗測定法
案例4 可靠性鑒定實驗
講師介紹---張老師
曾在多家國際公司負(fù)責(zé)過產(chǎn)品可靠性設(shè)計及開發(fā)工作。中國北京研究所可靠性處長，高級顧問,具有豐富的硬件設(shè)計經(jīng)驗。1994年 開始從事電子產(chǎn)品測試、試驗和可靠性技術(shù)研究等領(lǐng)域的學(xué)術(shù)帶頭工作。在此試驗室一直從事電子元器件和設(shè)備的可靠性工作。負(fù)責(zé)了多個國家重點工程元器件的優(yōu)選工作，開展電子設(shè)備可靠性預(yù)計、可靠性設(shè)計、可靠性分析等工作。編寫了《可靠性建模與分配》，《可靠性預(yù)計技術(shù)》、《可靠性設(shè)計技術(shù)》、《故障模式、效應(yīng)及危害性分析（FMECA）》、《故障樹分析(FTA)》、《工程用元器件質(zhì)量管理》等 有創(chuàng)新性的培訓(xùn)課題。通過國家頒發(fā)專業(yè)質(zhì)量培訓(xùn)執(zhí)教資格證書。。
豐富的產(chǎn)品設(shè)計經(jīng)驗和產(chǎn)品測試實踐以及深厚的可靠性理論基礎(chǔ)，為張老師開展產(chǎn)品可靠性研究提供了豐富的工程經(jīng)驗。曾為康佳、TCL、美的、科龍、電子36所、34所、54所、44所、26所進行過可靠性內(nèi)訓(xùn)授課和咨詢；為我國電子行業(yè)技術(shù)人員進行了幾十次公開可靠性設(shè)計、可靠性預(yù)計、3F方法、元器件優(yōu)選等方面的技術(shù)培訓(xùn)。 |
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